珍珠珠層厚度無損檢測儀(定制版)
管理員 發布日期:2015-5-29 點擊數:3993次
產品簡介:利用低功率近紅外光對珍珠無損成像,照射到樣品的光功率僅1-2mW,波長為1.3微米,無放射性,對檢測工作者和珍珠樣品完全無損傷,檢測實驗室無需放射性屏蔽,不會對工作人員產生潛在的X線放射性危害;

產品介紹:
定制版珍珠珠層厚度無損檢測儀
可根據使用要求專門定制版儀器
產品簡介:利用低功率近紅外光對珍珠無損成像,照射到樣品的光功率僅1-2mW,波長為1.3微米,無放射性,對檢測工作者和珍珠樣品完全無損傷,檢測實驗室無需放射性屏蔽,不會對工作人員產生潛在的X線放射性危害;
定制版珍珠珠層厚度無損檢測儀
可根據使用要求專門定制版儀器